SPT-T30是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF），独创的光路系统、散热系统、控制系统以及软件算法，使SPT-T30在测试精密度、准确度和操作便捷性上超越国内外同类产品，其卓越的性能被广泛的应用于RoHS/HF检测、重金属检测、合金成分分析、贵金属检测、镀层测试、土壤成分分析、矿石成分分析等领域，并得到权威第三方检测机构、上市企业以及其他中小型知名企业用户的一致好评。

SPT-T30采用美国完整版原装进口一体式X-123半导体X射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点，超越其他品牌或同品牌的组装探测器。

SPT-T30采用模块化分体式X射线准直器专利技术，根据用户需求，可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm中的任意四种准直器。满足样品中不同大小点测试需求。